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李紹榮&郭小偉Solar RRL:突破20%!能帶-缺陷協(xié)同優(yōu)化策略,助力sPbI?Br鈣鈦礦電池

發(fā)表時間:2025-09-17 10:39

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主要內(nèi)容

鈣鈦礦太陽能電池(PSCs)作為新一代光伏技術(shù),因其高光電轉(zhuǎn)換效率、低成本和可溶液加工等優(yōu)勢,受到了廣泛關(guān)注。其中,CsPbI?Br 作為一種全無機(jī)鈣鈦礦材料,憑借其出色的光熱穩(wěn)定性和適宜的帶隙,在高效穩(wěn)定鈣鈦礦太陽能電池領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力。然而,在實際應(yīng)用中,CsPbI?Br 鈣鈦礦太陽能電池面臨著界面處嚴(yán)重的能帶失配以及較高的界面和體相缺陷密度等問題,這些問題嚴(yán)重限制了器件性能的提升,成為制約其大規(guī)模商業(yè)化應(yīng)用的關(guān)鍵瓶頸?;诖?,電子科技大學(xué)李紹榮研究員、郭小偉研究員和劉曉東副教授帶領(lǐng)其團(tuán)隊展開深入研究,旨在通過協(xié)同優(yōu)化能帶排列和缺陷,突破 CsPbI?Br 鈣鈦礦太陽能電池的性能限制。


團(tuán)隊采用 SCAPS - 1D 軟件對 CsPbI?Br 鈣鈦礦太陽能電池進(jìn)行建模,并制定了一套系統(tǒng)的協(xié)同優(yōu)化策略??紤]到電子傳輸層/鈣鈦礦(ETL/PVSK)界面和鈣鈦礦/空穴傳輸層(PVSK/HTL)界面是載流子傳輸?shù)年P(guān)鍵通道,而體相缺陷會影響載流子的擴(kuò)散和復(fù)合,因此優(yōu)化過程依次展開。


首先針對 ETL/PVSK 界面,通過調(diào)整材料參數(shù)和界面結(jié)構(gòu),優(yōu)化能帶排列,減少界面處的載流子復(fù)合;接著對 PVSK/HTL 界面進(jìn)行類似優(yōu)化,確保空穴能夠高效傳輸;最后對 CsPbI?Br 層內(nèi)的體相缺陷進(jìn)行鈍化處理,降低載流子的非輻射復(fù)合損失。團(tuán)隊系統(tǒng)地對 ETL/PVSK 和 PVSK/HTL 界面進(jìn)行優(yōu)化后,再優(yōu)化體相缺陷,旨在**程度降低因缺陷和能帶排列失配導(dǎo)致的性能損失,并確定兩個界面的**能帶偏移量。


經(jīng)過大量的模擬計算和參數(shù)優(yōu)化,最終得到的**參數(shù)為:兩個界面(ETL/PVSK 和 PVSK/HTL)的能帶偏移量為 -0.3 eV,界面缺陷密度為 1.0×101? cm?2,體相缺陷密度為 1.0×1013 cm?3。優(yōu)化后的器件性能顯著提升,實現(xiàn)了 1.544 V 的開路電壓(Voc)、15.00 mA/cm2的短路電流密度(JSC)、87.22%的填充因子(FF)以及 20.20%的光電轉(zhuǎn)換效率(PCE)。與初始器件(12.37%)相比,PCE 提升了約 63%。這一顯著提升主要得益于能帶排列的優(yōu)化和缺陷密度的降低。優(yōu)化后的能帶排列減少了載流子在界面處的復(fù)合,使得更多的載流子能夠參與到電流輸出中,從而提高了短路電流密度;而降低的缺陷密度減少了載流子的非輻射復(fù)合,提高了開路電壓和填充因子,最終實現(xiàn)了光電轉(zhuǎn)換效率的大幅提升。


機(jī)理研究表明,團(tuán)隊發(fā)現(xiàn)能帶偏移量與缺陷密度之間存在著密切的相互作用關(guān)系,對載流子的傳輸和復(fù)合有著重要影響。在低界面缺陷密度下,**能帶偏移量變得更負(fù)。這是因為較負(fù)的能帶偏移量有利于形成更有利的能帶結(jié)構(gòu),促進(jìn)載流子的提取,同時減少界面處的復(fù)合。而正的能帶偏移量會阻礙載流子傳輸,導(dǎo)致準(zhǔn)費米能級分裂(QFLS)損失,且 ETL/PVSK 界面對這種損失機(jī)制尤為敏感。這是因為 ETL 的主要作用是傳輸電子,正的能帶偏移量會增加電子傳輸?shù)膭輭?,使電子在界面處積累,從而引發(fā)更多的復(fù)合。


至關(guān)重要的是,團(tuán)隊還發(fā)現(xiàn),在高缺陷密度條件下,較大的負(fù)能帶偏移量會放大界面缺陷的捕獲效應(yīng)。缺陷會捕獲載流子,使其無法參與電流傳輸,而較大的負(fù)能帶偏移量會進(jìn)一步增強(qiáng)這種捕獲作用,增加界面和體相復(fù)合。相反,在低缺陷密度條件下,較大的負(fù)偏移量僅引發(fā)極少的額外捕獲,反而有助于高效載流子提取,從而降低界面或體相復(fù)合。因此,低缺陷密度下的**能帶偏移量比高缺陷密度下所需的**偏移量更負(fù)。


總體而言,該團(tuán)隊的研究表明**能帶偏移量取決于界面缺陷密度,為界面工程設(shè)計提供了寶貴見解。此外,研究結(jié)果強(qiáng)調(diào),對能帶排列和缺陷鈍化進(jìn)行協(xié)同優(yōu)化對于充分釋放 CsPbI?Br 鈣鈦礦太陽能電池的潛力至關(guān)重要,為實現(xiàn)超過 20%的效率提供了理論指導(dǎo),有望推動 CsPbI?Br 鈣鈦礦太陽能電池向?qū)嶋H應(yīng)用邁進(jìn)。


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文獻(xiàn)信息

Synergistic Optimization of Band Alignment and Defects in CsPbI2Br Perovskite Solar Cells via SCAPS-1D Simulation: Achieving >20% Efficiency


Yizhou He, Yinuo Hou, Chi Zhang, Liming Jiang, Xiaowei Guo, Shaorong Li, Xiaodong Liu


https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/solr.202500549

產(chǎn)品鏈接-太陽能電池PL成像系統(tǒng).png產(chǎn)品鏈接-絕對ELPL量子產(chǎn)率測試系統(tǒng).png產(chǎn)品鏈接-雙燈太陽光模擬器.png

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